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製品の詳細
-機器紹介
電子スペックル干渉（ESPI）実験システムは粗い表面情報のキャリア−スペックルを用いて物体の離面変形を研究し、コンピュータ画像処理技術、レーザー技術及びホログラフィック干渉技術を結合した現代光測定技術である。レーザ光の高いコヒーレンスはスペックル現象を明らかにし、CCDカメラを用いて、コンピュータを用いてデータと画像を処理できるようにした。電子スペックル干渉の応用は広く、例えば、物体変形測定、非破壊測定、振動測定などである。
-製品の特徴
·構造が簡単で、精度が高く、非接触で、感度が良く、情報を処理するのが速く、暗室操作を必要とせず、満場の情報をリアルタイムに表示する
-基本構成とパラメータ
-オプションの構成
オンライン照会
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連絡する
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単位
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電話番号
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Eメール
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ウィーチャット
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認証コード
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メッセージの内容
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